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詳細介紹
XRIS便攜式射線機Gem-X200在選配鈹發射窗口時，可以讓低于50kV的射線通過，能進行低能透射，適合低能射線檢測：例如：動植物軟組織研究，藝術繪畫，文物考古的分析和復合材料的控制等應用。極小的焦點尺寸：0.5*0.7mm，能實現清晰的幾何放大圖像。本機可以檢查的結構的范圍：300 μm的碳纖維至30mm的鋼板。GemX的各項技術參數是依據機器尺寸和性能之間的比例折中而選定的。它們滿足了新一代數字圖像采集器的要求，即與傳統的膠片技術比較，要求較低的X射線計量。圓錐型的射線束角便于現場測距、定位。根據應用場景及客戶需求，GemX的控制可以由有線遙控器 (RCLGX)，無線遙控器(RCWLG) 和/或與PC連接而實現。當選用無線遙控方式時，一個《安全的通信協議》確保的安全。
XRIS便攜式射線機Gem-X200
型號 |
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射線窗口 | 鈹/鋁 | 鋁 |
可調電壓kV | 20（50）- 160 | 50-200 |
可調電流mA | 0.1-2.0 | |
恒電壓 | 是 | 是 |
占空比20℃ | >25% | >75% |
焦點mm | 0.5*0.7 | 0.5*0.7 |
射束角 | 45o*45o | 60o*60o |
冷卻 | 油絕緣 | 油絕緣 |
供電 | 電池/電源 | 電池/電源 |
控制方式 | 有線/無線 | 有線/無線 |
外形尺寸mm | 282*278*188 | 350*220*300 |
重量kg | 14 | 22 |
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